REM - Innenansicht - Kammer

REM - FIB - Labor

FEI Quanta 3D FEG
REM - Innenansicht - Kammer
Foto: Dr. Dennis Harries
REM FIB REM FIB Foto: Dr. Dennis Harries
  • Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Schottky-Feldemissionsquelle
  • Focused-ion-beam (FIB) Ionenoptik zur Mikropräparation von TEM-Proben im Dual-beam-Betrieb
  • Gasinjektionssystem zur Mikroabscheidung von Platin und Omniprobe 100 Mikromanipulator zum in-situ-Transfer von TEM-Proben
  • EDAX Genesis EDX-System
  • Hoch- und Niedrigvakuumbetrieb

Ansprechpartner

Dennis Harries, Dr.
Wiss. Mitarbeiter
Dr. Dennis Harries
Telefon
+49 3641 9-48736
Fax
+49 3641 9-48702
Sprechzeiten:
Standort IGW, Burgweg 11
Tel: 9-48732
oder
Standort Zeiss, Carl-Zeiss-Promenade 10
Tel: 9-48736
je nach Vereinbarung
Raum 6718
Carl-Zeiss-Promenade 10
07745 Jena
Falko Langenhorst, Prof. Dr.
Prof. Dr. Falko Langenhorst
Telefon
+49 3641 9-48730
Fax
+49 3641 9-48702
Sprechzeiten:
nach Vereinbarung

Standort IGW, Burgweg 11
Tel: 9-48731
oder
Standort Zeiss, Carl-Zeiss-Promenade 10
Tel: 9-48730
Raum 6419
Carl-Zeiss-Promenade 10
07745 Jena
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