REM - Innenansicht - Kammer

REM - FIB - Labor

FEI Quanta 3D FEG
REM - Innenansicht - Kammer
Foto: Dr. Dennis Harries

REM FIB

Foto: Dr. Dennis Harries
  • Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Schottky-Feldemissionsquelle
  • Focused-ion-beam (FIB) Ionenoptik zur Mikropräparation von TEM-Proben im Dual-beam-Betrieb
  • Gasinjektionssystem zur Mikroabscheidung von Platin und Omniprobe 100 Mikromanipulator zum in-situ-Transfer von TEM-Proben
  • EDAX Genesis EDX-System
  • Hoch- und Niedrigvakuumbetrieb

Ansprechpartner

Kilian Pollok, Dr.
Wiss. Mitarbeiter
Dr. Kilian Pollok
Foto: Jan-Peter Kasper (Universität Jena)
Raum 222
Lessingstraße 14
07743 Jena Google Maps – LageplanExterner Link
Sprechzeiten:
Standort IGW, Burgweg 11

Tel: 9-48732

oder

Standort CEEC II, Lessingstraße 14

Tel: 9-48733

je nach Vereinbarung
Falko Langenhorst, Prof. Dr.
Prof. Dr. Falko Langenhorst
Foto: Anne Günther (Universität Jena)