TEM - Innenansicht

TEM - Labor

FEI Tecnai G2 FEG
TEM - Innenansicht
Foto: Dr. Kilian Pollok
TEM Ansicht TEM Ansicht Foto: Analytische Mineralogie
  • 200 kV Transmissionselektronenmikroskop mit Schottky-Emitter
  • Gatan Quantum GIF für energiegefilterte Abbildung (EF-TEM) und Elektronen-Energieverlustspektroskopie (EELS).
  • X-Maxn 80T SDD EDX-System (Oxford)
  • Zwei 2K CCD Kameras (Gatan) und HAADF STEM-Detektor (Fischione).
  • Analytischer Doppelkipphalter, analytischer Kühldoppelkipphalter, Tomographiehalter.

Ansprechpartner

Kilian Pollok, Dr.
Wiss. Mitarbeiter
Dr. Kilian Pollok
Telefon
+49 3641 9-48733
Fax
+49 3641 9-48702
Sprechzeiten:
Standort IGW, Burgweg 11
Tel: 9-48732
oder
Standort Zeiss, Carl-Zeiss-Promenade 10
Tel: 9-48733
je nach Vereinbarung
Raum 6712
Carl-Zeiss-Promenade 10
07745 Jena
Falko Langenhorst, Prof. Dr.
Prof. Dr. Falko Langenhorst
Telefon
+49 3641 9-48730
Fax
+49 3641 9-48702
Sprechzeiten:
nach Vereinbarung

Standort IGW, Burgweg 11
Tel: 9-48731
oder
Standort Zeiss, Carl-Zeiss-Promenade 10
Tel: 9-48730
Raum 6419
Carl-Zeiss-Promenade 10
07745 Jena
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